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				|   |  |  | Description | LQFP-64P IC测试座 |   | 测试座型号 | OTQ-64-0.4-01 |   | 适用IC包装 | LQFP | 
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				|   |  |  | Description | LQFP-48P IC测试座 |   | 测试座型号 | OTQ-48-0.5-01 |   | 适用IC包装 | LQFP | 
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				|   |  |  | Description | TQFP 掀盖式测试角座 |   | 测试座型号 | FPQ-100-0.5-10A |   | 适用IC包装 | TQFP | 
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				|   |  |  | Description | FQP-208P测试角座 |   | 测试座型号 | FPQ-208-0.5-09 |   | 适用IC包装 | QFP | 
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				|   |  |  | Description | 掀盖式测试角座 |   | 适用IC包装 | QFP |   | Pins/Pitch | 80P/0.4mm | 
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				|   |  |  | Description | 48P转接座(掀盖式) |   | 测试座型号 | FPQ-48-0.5-06 |   | 适用IC包装 | TQFP | 
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				|   |  |  | Description | QFP掀盖式测试角座 |   | 测试座型号 | FPQ-64-0.8-13 |   | 适用IC包装 | QFP | 
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				|   |  |  | Description | PLCC 32P IC测试座 |   | 适用IC包装 | PLCC |   | Pins/Pitch | 32P/1.27mm | 
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				|   |  |  | Description | SOP 28Pins Open Top 老化测试座 |   | 测试座型号 | OTS-28-0.635-02 |   | 适用IC包装/实体宽度 | TSSOP | 
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				|   |  |  | Description | SOP-28P-330mil转接座-掀盖式 |   | 测试座型号 | FP-28-1.27-06 |   | 适用IC包装/实体宽度 | SOP-(8.4mmW 330mil) | 
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